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  • 沖擊試樣缺口夏比投影儀原廠規(guī)格
    沖擊試樣缺口夏比投影儀原廠規(guī)格

    沖擊試樣缺口夏比投影儀原廠規(guī)格CST-50I型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中試樣的要求而設(shè)計(jì),開發(fā)的一種余檢查夏比V型或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),一確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,對(duì)比直觀,操作簡(jiǎn)單,效率高。是理化試驗(yàn)室的*設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-03-30
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